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深紫外斯托克斯偏振態(tài)測量儀：在紫外波長（180nm-200nm）范圍內基于雙PEM（光彈調制器）的偏振測量系統(tǒng)為量化光的斯托克斯參數提供精度與靈敏度。該科研級高精度stokes測量系統(tǒng)可實現(xiàn)每秒超100組標準化斯托克斯參數集獲取。一次測量生成4個斯托克斯參數。該系統(tǒng)在光學元件表征、光學系統(tǒng)光束輸出表征、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面具有廣泛的應用。

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光纖偏振態(tài)測量儀

光纖偏振態(tài)測量儀：SK010PA是一款通用型偏振分析儀，該偏振分析儀通常用于對自由空間光路和保偏光纖光路進行偏振分析與測試?？蓪崟r對四個斯托克斯參數進行測量以獲取光路偏振狀態(tài)（SOP），并顯示在龐加萊球面上。在保偏光纖的評估和偏振對準中具有巨大優(yōu)勢。設備結構緊湊，即插即用，可輕松集成到現(xiàn)有客制系統(tǒng)中進行快速校準和測量，軟件操作簡單、功能強大。

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光頻梳偏頻測量模塊（f-2f自參考）

昊量光電新推出光頻梳偏頻測量模塊（f-2f自參考），為測量載波包絡偏移頻率(fceo)的f-2f自參考鎖定過程提供了一種緊湊且方便的解決方案。

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MPROBE 50 INSITU原位薄膜厚度測量儀

原位薄膜厚度測量儀-MPROBE 50 INSITU-昊量用于測量薄膜厚度和 n&k（光學常數）的實時光學測量儀。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作，因為它使用門控數據采集。

型號：MPROBE 50 INSITU 廠商性質：代理商

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MPROBE 40 MSP微小區(qū)域薄膜厚度測量儀

微小區(qū)域薄膜厚度測量儀-MPROBE 40 MSP，MProbe 40 測量薄膜厚度和折射率單擊鼠標在小地方。顯微分光光度計 (MSP) 集成在系統(tǒng)中同時結合顯微鏡，用于小點薄膜厚度測量。

型號：MPROBE 40 MSP 廠商性質：代理商

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小尺寸寬帶偏振態(tài)測量儀

PolSNAP是一款緊湊的偏振測量儀，來自Hinds Instruments;公司，數據采集速率為每秒2000個樣本，從而得以每秒快速確定4個Stokes矢量。光學系統(tǒng)，驅動電子和檢測電子都集成在一起，因此它很容易進入你的光學設置，這樣你就可以確定你的光源或光學的偏振，對激光進行質量控制，或確定你的光學的偏振保持能力。小尺寸寬帶偏振態(tài)測量儀

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通訊波段偏振消光比測量儀

該消光比測試儀PEM-330采用技術制造，可實現(xiàn)1260～1630nm全波段測量。只需更換測試光源，無需購買多臺消光比測試儀，即可實現(xiàn)不同波段器件的精確測量，一機多用大大降低了儀器購置成本。該消光比測試儀具有*的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達50dB的消光比。通訊波段偏振消光比測量儀

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超寬帶偏振態(tài)測量儀

超寬帶偏振態(tài)測量儀結合了Meadowlark Optics公司*的液晶可變相位延遲器技術和偏振技術，具有超寬帶、高精度及無運動部件等特點。

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